STM-PARC-1-Caractérisation des surfaces DSMI
- ue-mec-stm-parc-1-materiaux innovants et eco-respectueux
- Plasturgie
Semestre : 9
Responsable(s) du contenu pédagogique
- Thierry ROLAND
- Hervé PELLETIER
| Total coefficients : 3 |
| Total heures : 64,5 (32,5 cours, 32 TP) |
| Total heures travail personnel : 20 |
Prérequis
Notions de physique de la matière
Objectif
Les spectroscopies d’électrons pour l’analyse des surfaces : Analyse structurale des surfaces (LEED, RHEED), spectroscopies (XPS, AES, EXAFS, EELS, SIMS), ainsi que les techniques d’analyse par DRX et fluorescence X.
Les microscopies électroniques (MEB, MET) et les microscopies en champ proche (AFM, STM).
Formation pratique : TP : Microscopies électroniques (MEB, MET), Ablation Laser, Ultravide, PVD, DRX/Fluorescence X.
Compétences attendues
Axe A1 : CONNAISSANCES ET COMPRÉHENSION
Capacité à mettre en place un raisonnement scientifique rigoureux. Capacité à mobiliser les ressources d'un large champ de sciences fondamentales.
- Connaître et expliquer les concepts théoriques relatifs à un large champ de sciences fondamentales
- Formaliser un problème à l'aide d'outils analytiques ou numériques
- Être capable de résoudre un problème scientifique à l'aide de méthodes analytiques ou numériques
- Être capable de transposer les connaissances scientifiques dans le domaine de la spécialité
Axe A2 : ANALYSE TECHNIQUE
Capacité à mobiliser les ressources dans le domaine de la spécialité. Mettre en œuvre des connaissances techniques multidisciplinaires pour résoudre des problèmes d'ingénierie.
- Identifier un problème, le reformuler
- Déterminer les leviers d'actions permettant de résoudre un problème
- Identifier et comparer des méthodes de résolutions potentielles
Axe A3 : CONCEPTION TECHNIQUE
Capacité à mobiliser ou à développer des nouvelles méthodes de conception afin de concevoir des produits, des processus et des systèmes en tenant compte des dernières avancées techniques dans le domaine tout en prenant en compte les enjeux environnementaux et énergétiques.
- Analyser et comparer un large champ de données techniques
- Définir les solutions techniques répondant au besoin
- Réaliser et interpréter des simulations
Programme
- Techniques de caractérisation des surfaces
- Diffraction des rayons X
- Microscopies électroniques
- Microscopies champ proche
- Spectroscopies d'électrons
Mode d'évaluation
Epreuve écrite (1h) pour chaque partie du programme.